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半導體參數測試儀與MM探針臺/系統集成
更新時間：
2023-03-01
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729
半導體參數測試儀與MM探針臺/系統集成支持二極管、三極管、MOS管等半導體器件以及材料的直流電流-電壓（I-V）測量，準靜態和中頻電容-電壓（C-V）測量，時域測量等。
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